Библиография трудов чл.-кор. РАН К.К.Свиташева с 1987 г. по настоящее время
 Навигация
 
 

Свиташев К.К.




     *библиография + база данных
     *жизнь и деятельность
     *избранные труды



Научные школы ННЦ
 

БИБЛИОГРАФИЯ ТРУДОВ 1959-1977 1978-1986 с 1987 года ИЗОБРЕТЕНИЯ
 
1987 | 1988 | 1989 | 1991 | 1992 | 1993 | 1994 | 1995 | 1996 | 1997 | 1998 | 2001 | 2002 | 2003

  1. Автоматический эллипсометрический комплекс ЛЭФ-4А - микро-ЭВМ / Блюмкина Ю.А., Архипенко А.В., Иощенко Н.Н., Леоненко А.Ф., Новиков Б.С., Ощепков М.Х., Пузыня И.П., Рыхлицкий С.В., Свиташев К.К., Соколов В.К., Сычева К.Г., Федоринин В.Н., Щукина Н.И. // Эллипсометрия: теория, методы, приложения: тр. III всесоюз. конф. (Новосибирск, 9 июля - 11 июля 1985 г.) / отв. ред. Ржанов А.В., Ильина Л.А. - Новосибирск: Наука, 1987. - С.108-111. - Библиогр.: 9 назв.
  2. Контроль параметров сверхрешеток в процессе их получения методом эллипсометрии / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Мардежов А.С., Швец В.А. // Доклады Академии наук СССР. - 1987. - Т.297, N 3. - C.604-607. - Библиогр.: 5 назв.
  3. Лазерный фотоэлектрический эллипсометр ЛЭФ-3М-1 / Алгазин Ю.Б., Иощенко Н.Н., Леоненко А.Ф., Панькин В.Г., Рыхлицкий С.В., Свиташев К.К., Семенов В.Н., Соколов В.К., Щукина Н.И. // Приборы и техника эксперимента. - 1987. - N 6. - С.204.
  4. О влиянии многократного отражения на работу фазовой кварцевой пластинки / Рыхлицкий С.В., Свиташев К.К., Соколов В.К., Хасанов Т.Х. // Оптика и спектроскопия. - 1987. - Т.63, N 5. - С.1092-1094. - Библиогр.: 7 назв.
  5. Свиташева С.Н. Отражение света от ячейки случайной фазовой маски с цилиндрическими боковыми гранями / Свиташева С.Н., Любинская Р.И., Свиташев К.К. - Новосибирск, 1987. - 29 с. - (Препринт / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; N 18).
  6. Effect of multiple reflection on the operation of a quartz phase plate / Rykhlitskii S.V., Svitashev K.K., Sokolov V.K., Khasanov T.Kh. // Optics and Spectroscopy. - 1987. - V.63, N 5. - P.643-644. - Bibliogr.: 7 ref.
  7. Koldyaev V.I. Mathematical modeling of electron transport processes in the dielectrics of MDS structures in strong fields / Koldyaev V.I., Svitashev K.K. // Soviet Microelectronics. - 1987. - V.15, N 3. - P.145-158.
  8. Monitoring of superlattice parameters during ellipsometric measurements / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Mardezhov A.S., Shvets V.A. // Soviet Physics Doklady. - 1987. - V.32. - P.930. - Bibliogr.: 5 ref.
  9. Ред.: Эллипсометрия в науке и технике: тр. конф. (Новосибирск, 9-11 июля 1985 г.) / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Свиташев К.К., Мардежов А.С. - Новосибирск: Наука, 1987. - 205 с.
  10. Васильев В.В. Флюоресценция и фосфоресценция аморфных слоев нитрида кремния / Васильев В.В., Михайловский И.П., Свиташев К.К. // Журнал технической физики. - 1988. - Т.58, N 4. - С.836-839. - Библиогр.: 12 назв.
  11. Основное уравнение эллипсометрии для сверхрешеток / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Мардежов А.С., Швец В.А. // Доклады Академии наук СССР. - 1988. - Т.298, N 4. - С.862-866. - Библиогр.: 5 назв.
  12. Определение четырех параметров системы изотропная диэлектрическая пленка - ориентированный одноосный кристалл / Любинская Р.И., Мардежов А.С., Свиташев К.К., Хасанов Т. // Оптика и спектроскопия. - 1988. - Т.65, N 3. - С.632-635. - Библиогр.: 9 назв.
  13. Свиташев К.К. Эллипс / Свиташев К.К., Любинская Р.И. - Новосибирск, 1988. - 47 с. - (Препринт / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; N 30).
  14. Fundamental equation of ellipsometry for superlattices / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Mardezhov A.S., Shvets V.A. // Soviet Physics Doklady. - 1988. - V.33. - P.146. - Bibliogr.: 5 ref.
  15. Ржанов А.В. Сколько можно отставать...: блеск научных идей и нищета технического прогресса / Ржанов А.В., Свиташев К., Стенин С. // Известия. - 1989. - 3 окт. - С.3.
  16. Свиташев К.К. Измерение деполяризованной компоненты, возникающей при прохождении линейно поляризованного света через плоскопараллельную анизотропную пластинку / Свиташев К.К., Хасанов Т.Х. // Оптика и спектроскопия. - 1989. - Т.66, N 1. - С.218-220. - Библиогр.: 6 назв.
  17. Свиташев К.К. Эллиптические колебания / Свиташев К.К., Любинская Р.И. - Новосибирск, 1989. - 48 с. - (Препринт / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; N 35).
  18. Svitashev K.K. Measurement of the depolarized component arising from the passage of linearly polarized light through a plane-parallel anisotropic plate / Svitashev K.K., Khasanov T. // Optics and Spectroscopy. - 1989. - V.66, N 1. - P.125-126. - Bibliogr.: 6 ref.
  19. Кругликов С.В. Многоэлементные приемники изображения / Кругликов С.В., Логинов А.В., Свиташев К.К. - Новосибирск: Наука, 1991. - 96 с.
  20. Свиташев К. Стартовые условия существуют: Научно-технические программы СО АН СССР: "Твердотельная электроника" / Свиташев К., Овсюк В. // Наука в Сибири. - 1991. - N 12. - C.3.
  21. Ovsyuk V.N. Selective photodetectors: a view from the USSR / Ovsyuk V.N., Svitashev K.K. // Proceedings of SPIE. - 1991. - V.1540. - P.424-431.
  22. Ред.: Кругликов С.В. Многоэлементные приемники изображения / Кругликов С.В., Логинов А.В.; отв. ред. Свиташев К.К.; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т автоматики и электрометрии. - Новосибирск: Наука, 1991. - 96 с.
  23. Ред.: Эллипсометрия. Теория. Методы. Приложения: сб. науч. тр. / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Свиташев К.К., Мардежов А.С. - Новосибирск: Наука, 1991. - 253 с.
  24. Фотоприемные элементы ИК-диапазона на основе многослойных квантовых ям GaAs/AIGaAs / Бакланов М.Р., Демьяненко М.А., Мошегов Н.Т., Копп О.Р., Овсюк В.Н., Свиташев К.К., Торопов А.И., Шашкин В.В. // Оптический журнал. - 1992. - N 12. - C.45-49. - Библиогр.: 13 назв.
  25. Infrared Photodetector Elements Based on GaAs/AlGaAs Multilayer Quantum Wells / Baklanov M.R., Demyanenko M.A., Moshegov N.T., Kopp O.R., Ovsyuk V.N., Svitashev K.K., Toropov A.I., Shashkin V.V. // Soviet Journal Optical Technology. - 1992. - V.59, N 12. - P.789-792.
  26. Ovsyuk V.N. Selective Photodetectors - A View from Russia / Ovsyuk V.N., Svitashev K.K. // Optical Engineering. - 1992. - V.31, N 4. - P.685-688.
  27. Ред.: Избранные труды классиков физической оптики: в 3-х т. Т.1. Поляризация света / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Свиташев К.К. [и др.]. - Новосибирск: Наука, 1992. - 154 с.
  28. Ред.: Несмелова И.М. Оптические свойства узкощелевых полупроводников / Несмелова И.М.; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Свиташев К.К. - Новосибирск: Наука, 1992. - 156 с.
  29. Quantum-well infrared detectors: photocurrent spectroscopy and volt-ampere characteristics / Ovsyuk V.N., Svitashev K.K., Shashkin V.V., Toropov A.I., Moshegov N.T. // Proceedings of SPIE. - 1993. - V.2021. - P.171-178.
  30. Ред.: Френель О.Ж. Взаимодействие поляризованного света с веществом / Френель О.Ж.; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Свиташев К.К. [и др.]. - Новосибирск: Наука, 1993. - 226 с. - ( Избранные труды классиков физической оптики).
  31. Обзор докладов [представленных на секции "Наука и высшая школа: поиски выхода из кризиса"] / Свиташев К.К., Труфакин В.А., Востриков А.С. // Стратегия стабилизации экономики региона: проблемы и решения: науч.-практ. конф. (Новосибирск, 18-19 апр. 1994 г.). - Новосибирск, 1994. - C.124-132.
  32. Growth of High-Quality MCT Films in MBE Using In-situ Ellipsometry / Svitashev K.K., Dvoretsky S.A., Sidorov Yu.G., Shvets V.A., Mardezhov A.S., Nis I.E., Varavin V.S., Liberman V., Remesnik V.G. // Crystal Research and Technology. - 1994. - V.29, N 7. - C.931-937.
  33. Growth of High-Quality MCT Films in MBE Using In-situ Ellipsometry / Svitashev K.K., Dvoretsky S.A., Sidorov Yu.G., Shvets V.A., Mardezhov A.S., Nis I.E., Varavin V.S., Liberman V., Remesnik V.G. // Infrared Detectors-Materials, Processing and Devices: Materials Research Society Symposium Proceedings. - 1994. - V.299. - P.135-140.
  34. Ред.: Друде П. Оптические постоянные и поверхностные слои: [пер. с нем.] / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Свиташев К.К. [и др.]. - Новосибирск: Наука, 1994. - 481 с. - (Избранные труды классиков физической оптики, т.2).
  35. Эллипсометрия in situ при выращивании пленок твердых растворов кадмий - ртуть - теллур методом МЛЭ / Свиташев К.К., Швец В.А., Мардежов А.С., Дворецкий С.А., Сидоров Ю.Г., Варавин В.С. // Журнал технической физики. - 1995. - T.65, N 9. - С.110-120. - Библиогр.: 16 назв.
  36. In-situ ellipsometry used in MBE growth of cadmium-mercury-tellurium solid-solution films / Svitashev K.K., Shvets V.A., Mardezhov A.S., Dvoretskii S.A., Sidorov Yu.G., Varavin V.S. // Technical Physics. - 1995. - V.40, N 9. - P.924-929. (English translation of the journal "Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki")
  37. Метод эллипсометрии в технологии синтеза соединений кадмий-ртуть-теллур / Свиташев К.К., Швец В.А., Мардежов А.С., Дворецкий С.А., Сидоров Ю.Г., Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В., Чикичев С.И., Придачин Д.Н. // Автометрия. - 1996. - N 4. - С.100-109. - Библиогр.: 24 назв.
  38. Свиташев К.К. Некоторые проблемы создания многоэлементных фотоприемных устройств на основе твердых растворов теллуридов кадмия и ртути / Свиташев К.К., Чикичев С.И. // Автометрия. - 1996. - N 4. - С.3-5. - Библиогр.: 2 назв.
  39. Фокальные матрицы 2x64 для спектрального диапазона 8-10 мкм на объемных кристаллах CdHgTe / Васильев В.В., Захарьяш Т.И., Клименко А.Г., Крымский А.И., Марчишин И.В., Недосекина Т.Н., Овсюк В.Н., Ромашко Л.Н., Свиташев К.К., Сусляков А.О., Талипов Н.Х., Тишковская Л.В. // Автометрия. - 1996. - N 4. - С.32-39. - Библиогр.: 14 назв.
  40. Ellipsometry in the technology of cadmium-mercury-telluride alloy synthesis / Svitashev K.K., Shvets V.A., Mardezhov A.S., Dvoretsky S.A., Sidorov Yu.G., Spesivtsev E.V., Rykhlitsky S.V., Chikichev S.I., Pridachin D.N. // Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing (Avtometriya). - 1996. - N 4. - P.24-31.
  41.  *  LWIR 2x64 FPA detectors on bulk CdHgTe crystals / Vasilyev V.V., Zakharyash T.I., Klimenko A.G., Krymsky A.I., Marchishin I.V., Nedosekina T.N., Ovsyuk V.N., Romashko L.N., Svitashev K.K., Suslyakov A.O. // Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing (Avtometriya). - 1996. - N 4.
  42. Svitashev K.K. Some problems of multielement photodetector array fabrication from solid solutions of cadmium and mercury tellurides / Svitashev K.K., Chikichev S.I. // Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. - 1996. - N 4. - P.3-4.
  43. Свиташев К.К. Оптическая эллипсометрия на пороге 21-го века / Свиташев К.К., Чикичев С.И. // Автометрия. - 1997. - N 1. - С.3-4. - Библиогр.: 7 назв.
  44. Свиташев К.К. Связанные эллипсы и связанные эллиптические колебания / Свиташев К.К. // Автометрия. - 1997. - N 1. - С.22-33. - Библиогр.: 1 назв.
  45. Свиташев К.К. Физика в устойчивом развитии: беседа с пред. Объедин. учен. совета по физ.-техн. наукам СО РАН чл.-кор. РАН Свиташевым К.К.; вела Щербакова Л.А. / Свиташев К.К. // ЭКО: экономика и организация промышленного производства. - 1997. - N 8. - C.3-16.
  46. Ellipsometry as a powerful tool for the control of epitaxial semiconductor structures in-situ and ex-situ / Shvets V.A., Svitashev K.K., Mardezhov A.S., Dvoretsky S.A., Sidorov Yu.G., Mikhailov N.N., Spesivtsev E.V., Rychlitsky S.V. // Materials Science and Engineering. B. - 1997. - V.44, N 1-3. - P.164-167.
  47. Svitashev K.K. Optical ellipsometry on the verge of the XXI century / Svitashev K.K., Chikichev S.I. // Optoelectronics Instrumentation and Data Processing. - 1997. - N 1. - P.3-4.
  48. Svitashev K.K. Related ellipses and related elliptic oscillations / Svitashev K.K. // Optoelectronics Instrumentation and Data Processing. - 1997. - N 1. - P.22-23.
  49. Он Человеком был / Добрецов Н., Молодин В., Свиташев К., Толстиков Г., Фомин В., Деревянко А., Бойко В., Горюшкин Л., Покровский Н., Ромадановская Е., Алексеев Н., Аникин А., Бальбуров Э., Болдырев Б., Кузьмина Е., Маккуойд С., Михайлов Г., Назаренко Р., Рожнова С., Селютина И., Федоров А., Черемисина М., Широбокова Н., Юмсунова Т., Якимова Л. // Наука в Сибири. - 1998. - N 31/32. - C.11.
    Памяти члена-корреспондента РАН А.Б.Соктоева - директора Института филологии СО РАН.
  50. Попов В.П. Фундаментальные проблемы материаловедения полупроводникового кремния / Попов В.П., Асеев А.Л., Свиташев К.К. // Материалы Сибири: докл. 2-й междунар. конф. (Барнаул, 6-9 сент. 1998 г.). - Барнаул, 1998. - С.3.
  51. Свиташев К.К. Полупроводниковые многоэлементные фотоприемные устройства для тепловидения / Свиташев К.К., Чикичев С.И. // Автометрия. - 1998. - N 4. - С.3-4. - Библиогр.: 2 назв.
  52. Фокальные фотоприемные матрицы на основе гетероэпитаксиальных слоев CdHgTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из GaAs / Васильев В.В., Войнов В.Г., Есаев Д.Г., Захарьяш Т.И., Клименко А.Г., Козлов А.И., Крымский А.И., Марчишин И.В., Овсюк В.Н., Ромашко Л.Н., Свиташев К.К., Сусляков А.О., Талипов Н.Х., Сидоров Ю.Г., Варавин В.С., Дворецкий С.А., Михайлов Н.Н. // Оптический журнал. - 1998. - T.65, N 1. - С.80-85. - Библиогр.: 11 назв.
  53. Focal photodetector arrays based on CdHgTe heteroepitaxial layers grown by molecular-beam epitaxy on GaAs substrates / Vasilev V.V., Voinov V.G., Esaev D.G., Zakharyash T.I., Klimenko A.G., Kozlov A.I., Krymskii A.I., Marchishin I.V., Ovsyuk V.N., Romashko L.F., Svitashev K.K., Suslyakov A.O., Talipov N.K., Sidorov Y.G., Varavin V.C., Dvoretskii S.A., Mikhailov N.N. // Journal of Optical Technology. - 1998. - V.65, N 1. - P.68-72. - Bibliogr.: 11 ref.
  54. Svitashev K.K. Semiconductor multielement photodetector arrays for thermal imaging / Svitashev K.K., Chikichev S.I. // Optoelectronics Instrumentation and Data Processing. - 1998. - N 4. - P.3-4.
  55. Молекулярно-лучевая эпитаксия CdxHg1-xTe / Сидоров Ю.Г., Анциферов А.П., Варавин В.С., Дворецкий С.А., Мардежов А.С., Михайлов Н.Н., Свиташев К.К. // Наука - производству. - 2001. - N 12. - С.3-8.
  56. Ржанов А.В. Полупроводниковая микроэлектроника и технический прогресс [pdf 680 Kb] / Ржанов А.В., Свиташев К.К. // След на земле. Солдат, Ученый, Учитель / отв. ред. Неизвестный И.Г. - Новосибирск: Наука, 2002. - С.366-380. - Библиогр.: 21 назв.
      Перепечатка одноименного материала из журнала «Микроэлектроника», 1982, т.11, вып.6, стр.499-511.
  57. Эллипсометрические методы контроля в микроэлектронике / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Семененко А.И.,Семененко Л.В., Соколов В.К. // След на земле. Солдат, Ученый, Учитель / отв. ред. Неизвестный И.Г. - Новосибирск: Наука, 2002. - С.327-349. - Библиогр.: 69 назв.
  58. Молекулярно-лучевая эпитаксия CdxHg1-xTe / Сидоров Ю.Г., Анциферов А.П., Варавин В.С., Дворецкий С.А., Мардежов А.С., Михайлов Н.Н., Свиташев К.К. // Инженер. Технолог. Рабочий. - 2003. - N 10. - С.18-22.
 
1978-1986 гг.НазадНазад
К началу спискаК началу1959-1977 гг.
 * Записи, помеченные "звездочкой", не удалось
просмотреть de visu
 
 

Научные школы ННЦ К.К.Свиташев | Литература о жизни и деятельностиПодготовили Зоя Вахрамеева и Сергей Канн  
 


[Начало | О библиотеке | Академгородок | Новости | Выставки | Ресурсы | Партнеры | ИнфоЛоция | Поиск | English]
В 2004-2006 гг. проект поддерживался грантом РФФИ N 04-07-90121
 
© 2004-2021 Отделение ГПНТБ СО РАН (Новосибирск)
Статистика доступов: архив | текущая статистика

Документ изменен: Wed Feb 26 17:25:19 2020. Размер: 32,273 bytes.
Посещение N 4522 с 13.02.2007