3.08.1936, Ленинград - 11.02.1999, Новосибирск
Член-корреспондент АН СССР (1987), доктор физико-математических наук (1977), профессор (1985). Физик. Специалист в области элементной базы, систем восприятия информации и диагностики полупроводниковых структур.
Окончил физический факультет Ленинградского государственного университета (1959). По окончании вуза работал в Государственном оптическом институте им. С.И.Вавилова.
В Сибирском отделении с 1962 г.: зам. директора (1976), одновременно начальник СКТБ специальной электроники и аналитического приборостроения (1980-1990), с 1990 г. - директор Института физики полупроводников (ИФП) СО АН СССР - РАН, генеральный директор Объединенного института физики полупроводников СО РАН, зам. председателя Сибирского отделения (1991-1999).
Научная деятельность посвящена разработке физических принципов построения многоэлементных фотоприемных устройств ИК-диапазона, эллипсометрических методов исследования тонкопленочных структур, развитию методов молекулярно-лучевой эпитаксии, истории оптики.
Внес большой вклад в формирование элементной базы полупроводниковой электроники, создание тепловизионных устройств и систем тепловидения. Основатель научной школы по поляризационной отражательной эллипсометрии, заслужившей признание в нашей стране и за рубежом. Под его руководством велись разработка теории метода эллипсометрии и изготовление первого советского эллипсометра «ЛЭФ-000». В возглавляемом им отделе впервые в России была создана технология получения совершенных эпитаксиальных пленок тройного соединения «кадмий - ртуть - теллур». В рамках программы «Фотоника» проведены исследования новых технологий и многоэлементных, линейчатых и матричных полупроводниковых интегральных фотоприемников, позволяющих регистрировать сверхслабые излучения: от ультрафиолетового до дальнего инфракрасного диапазона длин волн.
Под руководством К.К.Свиташева ИФП СО РАН стал единственным в России институтом физического профиля, полностью работающим в области полупроводниковой тематики. В нем на мировом уровне продолжают развиваться физико-технологические исследования, направленные на создание современной микроэлектроники (микро-, нано- и оптоэлектроника). Его усилиями заложены основы возрождения отечественной индустрии полупроводникового кремния, образован научно-производственный комплекс «Кремний», успешно разрабатывалась технология производства матричных интеллектуальных силовых интегральных схем. Важное значение он уделял подготовке научных кадров. В институте работают кафедра Новосибирского государственного университета и филиал кафедры Новосибирского государственного технического университета.
Член Президиума СО РАН (1991-1999), председатель Объединенного ученого совета по физико-техническим наукам СО РАН (1994-1999), член редколлегий журналов «Микроэлектроника» и «Автометрия».
Лауреат премии Совета Министров СССР (1984).
Учреждена премия его имени для молодых ученых СО РАН.
| ОСНОВНЫЕ ТРУДЫ: Основы эллипсометрии. Новосибирск, 1979. 422 с. (в соавт.); Оптическая эллипсометрия. Новосибирск, 1988. Вып.1: Эллипс. 47 с.; 1989. Вып.2: Эллиптические колебания. 48 с. (в соавт.); Основное уравнение эллипсометрии для сверхрешетки // Докл. АН СССР. 1988. Т.298, N 4. С.862-867 (в соавт.); Некоторые проблемы создания многоэлементных фотоприемных устройств на основе твердых растворов теллурида кадмия и ртути // Автометрия. 1996. N 4. С.3-5 (в соавт.); Оптическая эллипсометрия на пороге XXI века // Там же. 1997. N 1. С.3-4 (в соавт.). ЛИТЕРАТУРА: Вестник АН СССР. 1987. Вып.11. С.142; Наука в Сибири. 1988. N 9; 1996. N 30-31; 1999. N 8. |
| | |
| |
| Свиташев Константин Константинович // Российская академия наук. Сибирское отделение: Персональный состав / Сост. Е.Г.Водичев и др. - Новосибирск: Наука, 2007. - С.500-501. |
|
|