| Минин И.В. Метрология в фотонике и нанооптике / И.В.Минин, О.В.Минин. - Новосибирск: СГУГиТ, 2016. - 171 с.
ШИФР ОТДЕЛЕНИЯ ГПНТБ СО РАН З 85-М618
| |
Введение ........................................................ 4
Библиографический список ....................................... 12
1 Метрология в оптоэлектронных приборах и фотонике ............ 14
1.1 Предмет и задачи метрологии ............................ 18
1.2 Метрологические характеристики средств измерений
и процедуры их подтверждений ........................... 24
1.3 Требования к источникам оптического излучения .......... 25
1.4 Среда распространения .................................. 34
1.5 Требования к оптической системе ........................ 39
1.6 Требования к оптическим фильтрам ....................... 41
1.7 Требования к анализаторам изображений .................. 42
1.8 Требования к приемникам оптического излучения .......... 42
1.9 Метрологическое обеспечение фотоники ................... 46
Библиографический список .................................... 59
2 Метрология в нанооптике ..................................... 61
2.1 Нанометрология ......................................... 61
2.2 Измерительные потребности .............................. 79
2.3 Особенности измерений в области нанотехнологий ......... 81
2.4 Методы измерений, применяемые в нанометрологии ......... 82
2.5 Метрологическое обеспечение измерений в
нанотехнологиях ........................................ 88
2.6 Оптические свойства наноматериалов ..................... 94
2.7 Фотонные кристаллы ..................................... 96
2.8 Метаматериалы. Отрицательное преломление ............... 98
2.9 Наноплазмоника. Поверхностные плазмоны ................ 101
2.10 Теория Ми рассеяния и поглощения излучения ............ 103
2.11 Практическое использование рассеяния излучения на
наночастицах .......................................... 104
2.12 Основные понятия в области материаловедения ........... 106
2.13 Методы и средства исследования нанообъектов ........... 109
2.14 Лицензирование и сертификация технологий .............. 113
2.15 Международные, региональные и зарубежные
национальные организации в области стандартизации.
Метрологии и сертификации, научные общества и
организации ........................................... 116
2.16 Метрологическое обеспечение систем диагностики
материалов ............................................ 117
2.17 Методы и средства испытания материалов ................ 120
2.18 Сертификация диагностических систем материалов
и новой продукции ..................................... 128
2.19 Сертификация ГОСТ Р ................................... 129
2.20 Протоколы испытаний ................................... 131
Библиографический список ................................... 134
3 Устройства фотоники на основе фотонных струй ............... 137
Библиографический список ................................... 162
Заключение .................................................... 169
|
Монография содержит основные сведения по метрологическому обеспечению фо-тоники и нанооптики. Рассмотрены ключевые понятия, проблемы стандартизации и метрологии в фотонике и нанооптике. Наиболее подробно описаны вопросы, посвященные метрологическим характеристикам средств измерений и процедурам их подтверждений; требования к источникам оптического излучения, среде распространения, оптической системе, оптическим фильтрам, приемникам оптического излучения и метрологическому обеспечению фотоники. Также значительное внимание уделено новому направлению - нанометрологии. Рассмотрены особенности измерений в области нанотехнологий, методы измерений, применяемых в нанометрологии; методы и средства исследования нанообъектов, вопросы лицензирования и сертификации технологий, метрологическое обеспечение систем диагностики материалов; методы и средства испытания материалов и сертификация диагностических систем материалов и новой продукции.
Монография может использоваться аспирантами, магистрантами, а также студентами специальности 27.03.01 «Стандартизация и метрология».
Рекомендована к изданию Ученым советом Института оптики и оптических технологий СГУГиТ. |
|