| Комаров А.С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) / А.С.Комаров, Д.В.Крапухин, Е.И.Шульгин. - М.: Техносфера, 2014. - 239 с. - (Мир радиоэлектроники; XVII-25).
ШИФР ОТДЕЛЕНИЯ ГПНТБ СО РАН З 84-К63
| |
Список условных сокращений ...................................... 8
Введение ....................................................... 10
Глава 1. Исследование направлений и путей развития
сложнофункциональных изделий микроэлектроники, проектирование
РЭА на основе СБИС типа "система на кристалле" ................. 35
1.1 Исследования направлений и путей развития
сложнофункциональных изделий микроэлектроники, их
функционального состава и характеристик ................... 37
1.2 Особенности конструирования СБИС типа "система на
кристалле", основные проектные платформы СБИС типа
"система на кристалле" .................................... 38
1.2.1 Процессорные ядра и СФ-блоки многократного
использования ...................................... 47
1.2.2 СБИС типа "система на кристалле" на базе
реконфигурируемых структур ......................... 49
1.2.3 Встраиваемые программируемые логические ядра ....... 58
1.2.4 Аналоговые функциональные блоки и блоки со
смешанной обработкой сигнала для СБИС типа
"система на кристалле" ............................. 58
1.2.5 СФ-блоки цифровых приемников/передатчиков типа
"система на кристалле" ............................. 58
Выводы к главе 1 ............................................... 59
Глава 2. Разработка и обеспечение реализации научно-
методических принципов управления научно-техническим уровнем
высокоинтегрированных электронных систем ....................... 65
2.1 Системный анализ физико-технологических ограничений
реализации развития технического уровня
сложнофункциональных микроэлектронных систем .............. 67
2.2 Анализ функциональной полноты и достаточности
разрабатываемых и планируемых к разработке СФ-блоков для
проектируемых СнК в обеспечение РЭА ....................... 71
2.2.1 Структурные решения СБИС типа "система на
кристалле", направления их развития и опыт
реализации ......................................... 73
2.2.2 Определение степени применяемости СФ-блоков ........ 88
2.3 Оценка достаточности действующей НТД по разработке
и производству СБИС типа СнК с использованием СФ-блоков ... 94
2.3.1 Направления перспективных работ по созданию
нормативных документов по СФ-блокам и СБИС типа
СнК в интересах РЭА ............................... 101
2.4 Организация разработки СБИС типа "система на кристалле"
на основе СФ-блоков ...................................... 104
2.4.1 Инфраструктура разработки СБИС типа СнК ........... 107
2.4.2 Основные методические этапы по развитию
инфраструктуры проектирования СФ-блоков и СнК ..... 114
2.4.3 Современные подходы к проектированию СБИС
с топологическими нормами 0,18—0,25 мкм и
последующим переходом в нанометровые области ...... 116
2.5 Применение статистического метода для анализа и
прогнозирования развития проектно-технологического
базиса сложнофункциональных СБИС ......................... 125
Выводы к главе 2 ......................................... 133
Глава 3. Формирование унифицированной номенклатуры СФ-блоков
по технологии КМОП/КНС для создания радиационно-стойких СБИС
типа "система на кристалле" ................................... 136
3.1 Анализ направлений и путей развития в области
проектирования и изготовления сложнофункциональных
изделий микроэлектроники типа СБИС "система на
кристалле" на основе СФ-блоков, анализ проектно-
технологических возможностей по их реализации ............ 138
3.1.1 Исследование архитектурно-структурных решений
СБИС типа СнК ..................................... 143
3.2 Специальные требования к СФ-блокам СБИС типа "система
на кристалле", предназначенным для работы в аппаратуре
космических аппаратов с длительным сроком эксплуатации ... 148
3.3 Тенденции развития СБИС для бортовой космической
аппаратуры. Выбор и обоснование технологии,
обеспечивающей изготовление СБИС типа "система на
кристалле" для космических аппаратов с длительным
сроком эксплуатации ...................................... 152
Выводы к главе ........................................... 159
Глава 4. Исследования по созданию технологии производства
структур с ультратонкими слоями кремния на сапфире ............ 162
4.1 Анализ современного состояния технологий производства
КНС структур с ультратонким эпитаксиальным слоем
кремния и КМОП-микросхем на основе КНС структур с
ультратонким слоем кремния ............................... 162
4.2 Создание СБИС, в том числе типа "система на кристалле",
и СФ-блоков для них по технологии КМОП/КНС аппаратуры .... 163
управления ракетно-космической техники и автоматики
специального назначения .................................. 175
4.3 Разработка и создание технологии КНС структур с
ультратонкими слоями кремния и проектных решений для
реализации КМОП/КНС СБИС на их основе .................... 176
Выводы к главе 4 .............................................. 178
Заключение .................................................... 182
Литература .................................................... 190
Приложение А (Справочно-аналитическое).
Научно-методические рекомендации (аннотировано).
Исследование и разработка методов физико-технического и
нормативно-методического контроля технического уровня СБИС
с предельными топологическими нормами ......................... 199
Приложение Б
Информационная среда проектирования. Методические
рекомендации. Состав и основное содержание разделов
справочно-информационного листа для описания СФ-блоков на
различных этапах интеграции в СБИС и требования к содержанию
заявки на разработку СБИС типа "система на кристалле" ......... 206
Приложение В (аннотировано).
Информационная среда проектирования. Методические
рекомендации по правилам заказа на изготовление СБИС в
режиме Foundry ................................................ 237
|
В монографии представлены результаты исследований и разработок по реализации "Основ политики Российской Федерации в области развития электронной компонентной базы на период до 2010 г. и дальнейшую перспективу", утвержденным президентом Российской Федерации.
Сформулированы основные принципы и методы управления техническим уровнем при реализации системной организации по проектированию, моделированию и технологическому обеспечению изготовления СБИС типа "система на кристалле", разработана концепция построения инфраструктуры сквозного проектирования сложно-функциональных СБИС от системного уровня до топологии кристалла, выбора технологического базиса для изготовления СБИС с учетом обеспечения специальных требований по радиационной стойкости, организации процесса изготовления фотошаблонов и микросхем, последующего их тестирования, сборки, испытаний и применения. |
|