152.
(11) Номер патента: 2160441
(46) Дата публикации: 10.12.2000
(51) МПК7: G 01 N 27/85, 27/82, G 01 R 33/24
(21) Номер заявки: 98119132/28
(22) Дата подачи заявки: 21.10.1998
(71) Заявитель:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
(72) Изобретатель:
Беляев Б.А.,
Лексиков А.А.,
Макиевский И.Я.,
Овчинников С.Г.
(73) Патентообладатель:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
(98) Адрес для переписки:
660036, г.Красноярск, Академгородок, Институт физики СО РАН, патентный отдел
(54) СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ
(57)
Способ относится к неразрушающим методам контроля материалов и изделий и может быть использован для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин. Изделие контролируют, располагая над ним индикаторный блок, основу которого составляет магнитная пленка. На пленку воздействуют магнитным полем. Дефекты выявляют, определяя магнитное состояние пленки при помощи метода локального ферромагнитного резонанса. Способ позволяет путем выбора типа магнитной анизотропии пленки использовать для контроля нормальную либо тангенциальную составляющую магнитного поля и тем самым повысить вероятность обнаружения дефекта. 1 ил.
1 - контролируемый материал, 2 - магнитная пленка-индикатор, 3 - блок локального измерения спектра ФМР, 4 - магнитная система спектрометра ФМР, 5 - блок регистрации.
|
|
